镀层厚度测试仪 电镀层测厚仪:用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。
X射线荧光光谱仪工作原理介绍 镀层厚度测试仪 电镀层测厚仪
用X射线照射试样时,试样可以被激发出各种波长的荧光X射线,需要把混合的X射线按波长(或能量)分开,分别测量不同波长(或能量)的X射线的强度,以进行定性和定量分析,为此使用的仪器叫X射线荧光光谱仪。由于X光具有一定波长,同时又有一定能量,因此,X射线荧光光谱仪有两种基本类型:波长色散型和能量色散型。下是这两类仪器的原理图。
Thick 8000 镀层厚度测试仪 电镀层测厚仪
分析元素范围:从硫(S)到铀(U)
同时检测元素:最多24个元素,多达五层镀层
检出限:可达2ppm,薄可测试0.005μm
分析含量:一般为2ppm到99.9%
镀层厚度:一般在50μm以内(每种材料有所不同)重复性:可达0.1%
稳定性:可达0.1%
SDD探测器:分辨率低至135eV
采用*的微孔准直技术,最小孔径达0.1mm,最小光斑达0.1mm
样品观察:配备全景和局部两个工业高清摄像头
准直器:0.3×0.05mm、Ф0.1mm、Ф0.2mm与
Ф0.3mm四种准直器组合
仪器尺寸:690(W)x 575(D)x 660(H)mm
样品室尺寸:520(W)x 395(D)x150(H)mm
样品台尺寸:393(W)x 258 (D)mm
X/Y/Z平台移动速度:额定速度200mm/s 速度333.3mm/s
X/Y/Z平台重复定位精度 :小于0.1um
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度 15℃~30℃
Thick800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)中间的任意金属镀层
一次可同时分析多达五层镀层
薄可测试0.005μm
分析含量一般为2ppm到99.9%
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型
相互独立的基体效应校正模型
多变量非线性回收程序
长期工作稳定性高
度适应范围为15℃至30℃
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源
仪器尺寸:576(W) x 495 (D) x 545(H) mm
重量:90 kg
公司介绍
江苏天瑞仪器股份有限公司是研发生产销售ROHS分析仪,气相色谱质谱联用仪,镀层测厚仪,等离子发射光谱仪,X射线镀层测厚仪,气相色谱仪,液相色谱仪,ROHS2.0分析仪,XRF合金分析仪,X荧光光谱仪,汽油中硅含量检测仪,手持式合金分析仪等,涉及的仪器设备主要有EDX1800B,Thick800A,EDX1800E,Thick8000,ICP2060T,GCMS6800,ICPMS2000,OES8000S等。
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